[정보통신신문=서유덕기자]

반도체·전자부품 신뢰성 분석 기업 큐알티(QRT)가 반도체 소프트에러 평가를 정밀·신속하게 수행할 수 있는 ‘반도체 소자의 방사선 평가 시스템’과 ‘빔의 특성 평가 시스템’ 2종의 특허 등록을 완료했다고 11일 밝혔다.

이 특허 기술들은 반도체가 방사입자에 노출되었을 때 발생하는 현상을 정확하게 분석할 수 있는 반도체 동작 기술과 빔 시설의 선속(flux) 및 빔 영역의 균일도를 고려한 유효선량(effective fluence) 측정 기술, 고장 현상 분류를 위한 효과적인 검출 알고리즘을 기반으로 개발됐다.

이는 한국산업기술평가관리원(KEIT)의 차세대 지능형 반도체 기술개발 사업 지원 국책과제인 ‘중성자에 의한 반도체 소프트에러 검출 상용화 장비 개발’ 과정에서 도출됐으며, 여기에는 각 기준 반도체 소자 배치 방식, 빔의 민감도, 시설에서 보증하는 ±10%의 빔 영역 내의 변동성 등 종합 분석 데이터를 기반으로 빔 균일성 등의 외부 요인에 의한 오차를 최대한 줄이고, 측정 반도체의 소프트에러 민감성만 정확히 검출할 수 있는 내용도 포함됐다.

큐알티는 신규 특허 시스템을 통해 다양한 가속시설 환경에 따른 소프트에러 특성을 수치로 정량화하고, 상호 연관성 있는 각종 세부 데이터를 확보해 반도체 소프트에러 강건성을 확보할 수 있는 기술적 토대를 마련하게 됐다. 아울러, 반도체 소프트에러 해외 시험소 평가 출장을 위해 제품별·기능별 최적화 모듈 조립이 가능한 모바일 구조도 제공해 업계 관계자들이 필요한 소프트에러 데이터를 손쉽게 구축하는 데 도움을 주고 있다.

큐알티는 지난 2년간 소프트에러 검출 시스템과 빔 특성 측정 기술을 중성자, 양성자 등의 다양한 국내외 방사선 시설에서 검증하면서 관련 기술의 우수성을 인정받아 미국 LANSCE와 캐나다 TRIUMF 같은 해외 중성자 연구소와 공동연구를 진행하고 있으며, 첨단 기술 보호를 위해 국내와 미국, 유럽 등을 대상으로 해외 특허(PCT)를 출원한 상태다.

큐알티 정성수 최고기술책임자(CTO)는 “최근 고밀도, 고집적화 반도체들이 다수 사용됨에 따라 소프트에러 평가 의무화와 개선대책 수립에 대해 관심이 쏠리면서 이를 수행할 수 있는 전문 기술이 요구되고 있으나, 국내 인프라는 아직 부족한 상황”이라며 “이번 특허도 관련 핵심 기술이 해외로 유출되는 것을 원천적으로 방지하고, 차세대 소프트에러 검출 장비·솔루션의 경쟁력을 강화하기 위해 국내에서 취득하게 됐다”고 말했다.

이어 “큐알티의 평가 기술력이 국내 반도체 생태계가 한 단계 더 성장하는 데 도움이 될 수 있도록 연구개발 분야에 투자를 아끼지 않겠다”고 전했다.

한편, 큐알티는 반도체 분석 전문가와 소프트에러 기술 전문가를 지속 영입해, 소프트웨어 분석 메모리, 시스템반도체 개발, SSD의 소프트에러 검출 상용화 장비 개발 등 방사선 빔 시설에서 활동을 이어가고 있다.

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