[정보통신신문=서유덕기자]

반도체·전자부품 신뢰성 분석 기업 큐알티(QRT)가 ‘다채널 광대역 고주파인가장치’ 특허를 취득했다고 27일 밝혔다.

다채널 광대역 고주파인가장치는 광대역 고주파 신호의 입출력과 전력 세기를 비교분석해 통신용 RF 신호를 정밀하게 입력해 주는 장치다. RF 소자에 상이한 전력 레벨을 갖는 RF 신호를 분석해 입력부와 증폭부, 출력부에 자동적으로 동일한 레벨로 전력을 제공하는 것은 물론, 넓은 주파수 범위와 다채널의 높은 파워로 다량의 RF 소자에 대한 신뢰성 테스트가 가능하다.

해당 특허는 RF 소자의 초기 불량률(ELFR), 번인(Burn-in), 고온동작수명(HTOL) 등 반도체 수명을 분석하는 신뢰성 테스트에 주로 활용되고 있다. RF 소자 신뢰성 테스트는 RF 입력 정확도가 중요한데, 장치 내 ALC(Auto Level Control) 알고리즘을 통해 ±0.5데시벨(㏈) 수준의 신호를 지원, 수명 평가 테스트 시간과 비용을 개선했다.

또 다채널 광대역 고주파인가장치에 별도 추가 장치를 결합하면 RF 소자의 기능검사도 가능하다.

최영락 큐알티 제2연구소장은 “최근 5세대 이동통신(5G)과 사물인터넷(IoT), 자율주행 등 4차 산업혁명 시장이 확대되면서 최첨단 기기에 탑재되는 RF 소자의 중요성이 부각되고 있지만, 칩 개발 과정에서 초고주파와 광대역 RF 칩에 대한 기술 개발은 이미 완료된 반면 신뢰성 평가 인프라가 부족해 어려움을 겪는 기업이 많다”며 “국내 반도체 생태계가 기술적 측면에서도 세계 시장에서 경쟁력을 보유할 수 있도록 R&D 분야에 많은 투자와 도전을 지속해 나갈 예정”이라고 말했다.

한편 큐알티는 한국산업기술평관리원과 차세대지능형반도체사업단의 지원으로 세계 최초 RF 소자 수명평가와 열화 메커니즘을 동시 파악할 수 있는 시스템과 지능형 소프트웨어 개발을 앞두고 있다. 현재 프로토 타입 테스트를 진행 중이며, 내년 하반기 출시가 예상된다.

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